www.remX.de
Wir haben wir unsere Produktpalette
erweitert und vertreiben
Produkte der Firma

XEI Scientific, Inc.

Für nähere Information rufen Sie uns an
oder
klicken Sie hier!

NEUE "gebrauchte" im Angebot

JEOL

JSM 6500F

JEOL

JSM 5900LV

HITACHI S5200 Feldemissionsgerät

U M B A U

für

JEOL JSM 6300 , 6400 , 6300F , 6400F , 6310, 840A

REM JEOL 6400

REM JEOL 6400 PC

Software control
USB 2.0 interface for command and data transfer
Signal monitor
Reduced area scan with digital zoom
Line averaging, frame averaging
Mag, HV, WD polling
JEOL keyboard for service
JEOL monitor for Service
Live Image

SDD-Detektoren

(stickstofffrei)

können jetzt nachträglich an allen gängigen EDX-Systemen

(z. B. Oxford, Bruker, EDAX, Noran ...) nachgerüstet werden

Mikroanalyse II

mit Praxisteil

am 15./16. Mai 2014

Unser diesjähriges Seminar war gegliedert in einen theoretischen und in einen praktischen Teil. Am ersten Tag wurden sehr interessante Fachvorträge gehalten, u. a. zu den Themen

- Röntgenmikrobereichsanalyse (EDX) im REM

- Spurensuche im Mikrokosmos und

- Einführung EBSD

Der Praxistag fand an einem unserer REMs in unserem Labor statt und umfasste u. a. auch die EDX-Analyse.

REM JEOL 6400 REM JEOL 6400 PC

REM JEOL 6400

REM JEOL 6400 PC